鍵槽塞規光潔度

時間：2014-02-10

作者：螺紋量規_泊頭漢潤環保機械制造有限公司

詞條
詞條說明
螺紋塞規的介紹應用
螺紋塞規使用完畢后，應及時清理干凈丈量部位附著物，存放在劃定的量具盒內。出產現場在用量具應擺放在工藝定置位置，輕拿輕放，以防止磕碰而損壞丈量表面。嚴禁將量具作為切削工具強制旋入螺紋，避免造成早期磨損。可調節螺紋環規嚴禁非計量工作職員隨意調整，確保量具的正確性。環規長時間不用，應交計量治理部分妥善保管。通規使用時：應留意被測螺紋公差等級及偏差代號與環規標識的公差等級、偏差代號相同（如M24*
鍵槽塞規光潔度
鍵槽塞規：主要用以檢驗鍵槽的寬度，為方便測量，故加工為通端和止端，外形是片形。因其具有測量方便，測量誤差小等優點，故被廣泛使用。光潔度的實物標準器是標準單刻線樣板和標準多刻線樣板，二者都由1到14級的標準樣板組成。由于標準樣板的檢定精度要求較高（相對誤差在2-3%），目前尚沒有合適的儀器可與鑒定，只能用比對方法檢定。各種光潔度工藝樣板可用雙管顯微鏡（檢定9級以下）、干涉顯微鏡（檢定10級以上）和
光滑環規使用
光滑塞規、針規用于對孔進行綜合丈量。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合丈量光面圓柱工件。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。? 光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合
螺紋塞規的檢驗
普通螺紋有兩類檢測方法：綜合檢驗和單項檢驗。綜合檢驗就是用量規對影響螺紋互換性的幾何參數偏差的綜合結果進行檢驗。其中包括：使用普通螺紋量規和止規分別對被測螺紋的作用中徑（含底徑）和單一中徑進行檢驗；使用光滑較**規對被測孔徑進行檢驗。螺紋量規通規模擬被測螺紋的較大實體牙型，檢驗被測螺紋的作用中徑是否**過其較大實體牙型的中徑，并同時檢驗底徑實際尺寸是否**過其較大實體尺寸。 ? 檢驗方