鍵槽塞規光潔度

時間：2014-02-10

作者：螺紋量規_泊頭漢潤環保機械制造有限公司

詞條
詞條說明
螺紋塞規的介紹應用
螺紋塞規使用完畢后，應及時清理干凈丈量部位附著物，存放在劃定的量具盒內。出產現場在用量具應擺放在工藝定置位置，輕拿輕放，以防止磕碰而損壞丈量表面。嚴禁將量具作為切削工具強制旋入螺紋，避免造成早期磨損。可調節螺紋環規嚴禁非計量工作職員隨意調整，確保量具的正確性。環規長時間不用，應交計量治理部分妥善保管。通規使用時：應留意被測螺紋公差等級及偏差代號與環規標識的公差等級、偏差代號相同（如M24*
光滑環規使用
光滑塞規、針規用于對孔進行綜合丈量。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合丈量光面圓柱工件。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。校對光滑環規一般采用劃線定位測校，是內徑長度計量的基準；用于校正或檢修內徑丈量儀器和量具。光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。? 光滑環規分為校對光面環規和極限光面規。極限光面環規分為通端和止端；用于綜合
鍵槽塞規光潔度
鍵槽塞規：主要用以檢驗鍵槽的寬度，為方便測量，故加工為通端和止端，外形是片形。因其具有測量方便，測量誤差小等優點，故被廣泛使用。光潔度的實物標準器是標準單刻線樣板和標準多刻線樣板，二者都由1到14級的標準樣板組成。由于標準樣板的檢定精度要求較高（相對誤差在2-3%），目前尚沒有合適的儀器可與鑒定，只能用比對方法檢定。各種光潔度工藝樣板可用雙管顯微鏡（檢定9級以下）、干涉顯微鏡（檢定10級以上）和
光滑錐度環規內錐度的測量
光滑錐度環規內錐度的測量步驟，在平板上用鋼球、量塊和千分表進行。這種方法測量精度較低，對于小尺寸孔徑的錐體測量，我們有較好的方法。在立式測長儀上利用自制**測頭和鋼球測量內錐度，操作簡單，若鋼球尺寸與圓度誤差適當控制，錐角的測量精度可在秒級范圍。將**測頭裝在儀器安裝軸上，使**測頭的工作面與儀器工作臺上預先放好的量塊(5mm)*接觸，然后根據被測錐體的高度，調好儀器行程，取下儀器工作臺上的