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MC-2000C型涂層測厚儀(涂鍍層測厚儀) 一、概述 MC-2000C型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)測量范圍:0~5000um,是**的結晶,它采用單片機技術,精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、系統校準,其性能達到當代**同類儀器的**水平。 應用范圍: 涂層測厚儀儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地
MP-2型金相試樣磨拋機 用途 該機是將試樣預磨和拋光操作結合為一體的經濟機型,轉盤通過帶輪的轉速比獲得不同的轉速,從而實現磨拋功能,是中小企業試樣制作的理想設備。 二、結構特征概述 該機左盤為預磨盤,右盤為拋光盤。預磨時,通過回轉水咀將冷卻水不斷注入旋轉的磨盤中,砂紙在大氣壓的作用下可以緊貼在磨盤上,從而不須將砂紙粘結或夾緊。拋光時,可將拋光織物平鋪在拋光盤上,然后用扣圈扣緊織物,再進行拋光,
產品型號:CM8855 產品名稱:CM8855涂層測厚儀 產品貨號: 產品價格:0 產品品牌:星楓儀器 產品類別:物理性質檢測儀器 CM-8855涂層測厚儀,CM8855膜厚儀 CM-8855涂層測厚儀特性 CM-8855涂層測厚儀是用電池供電的便攜式測量儀器, CM8855膜厚儀采用磁感應和電渦流原理。CM8855膜厚儀測量方法符合**標準ISO2178,ISO2360和國家標準GB4956,
TDJ2/TDJ2E光學經緯儀 TDJ2、TDJ2E型經緯儀是一種精密的光學經緯儀。它可以精密測定水平角度、垂直角度及概略的距離。垂直角度及水平角度用光學測微器可直讀到1″或1cc。產品性能、技術參數完全符合J2級光學經緯儀GB/T3161-2003標準規定。 本儀器在大地控制測量、精密工程測量及*建設上占有很重要地位。本儀器主要用于三、四等國家三角控制測量、精密導線測量、城市控制測量、礦區控
公司名: 南昌星楓儀器有限公司
聯系人: 黃經理
電 話: 0791-85226050
手 機: 15970662315
微 信: 15970662315
地 址: 江西南昌青云譜區南昌市青云譜區三點西路44號
郵 編: 330001
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