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臺(tái)式X熒光光譜儀超詳細(xì)的使用細(xì)節(jié)介紹
臺(tái)式X熒光光譜儀是一種常用的分析儀器,它利用原級(jí)X射線光子或其它微觀粒子激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生次級(jí)的特征X射線(X光熒光)而進(jìn)行物質(zhì)成分分析和化學(xué)態(tài)研究。臺(tái)式X熒光光譜儀具有譜線簡(jiǎn)單、分析速度快、測(cè)量元素多、能進(jìn)行多元素同時(shí)分析等眾多優(yōu)點(diǎn)。那么我們?cè)谑褂门_(tái)式X熒光光譜儀時(shí),你的使用過程中的細(xì)節(jié)注意到了嗎?安全操作:首先,要確保儀器的電源和其他電氣設(shè)備接地可靠,以防止電擊等安全事故發(fā)生。在操
手持X熒光光譜儀在爐渣成分分析中的主要應(yīng)用有哪些?
??手持式X熒光光譜儀在檢測(cè)非金屬材料的成分方面具有廣泛的應(yīng)用。爐渣,作為金屬冶煉過程的副產(chǎn)品,其成分的準(zhǔn)確檢測(cè)具有重要意義,尤其是對(duì)于確保金屬冶煉質(zhì)量的高標(biāo)準(zhǔn)和高要求。? 爐渣的成分通常通過添加適量的熔劑(如石灰、石英石、螢石等)進(jìn)行精確調(diào)整。在冶煉過程中,通過控制爐渣的成分和性質(zhì),可以有效分離脈石和氧化雜質(zhì),將它們與熔融金屬或硫分離開,從而去除金屬中的有害雜質(zhì),吸
臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差的幾個(gè)來源分析
臺(tái)式X熒光光譜儀分析法之一的粉末樣品不存在固體樣品的主要缺點(diǎn)(不能用添加劑)。在各種應(yīng)用中,粉末方法通常既方便又迅速。接下來我們了解下幾個(gè)臺(tái)式X熒光光譜儀測(cè)試時(shí)粉末樣品誤差來源。粉末樣品誤差主要來源:(1) 粒度效應(yīng) 粉末樣品粒度效應(yīng)是指被測(cè)量樣品中的分析元素的熒光強(qiáng)度變化和樣品的粒度變化有關(guān)。一般來說,被分析樣品的粒度越小,熒光強(qiáng)度越高,輕元素尤甚。原子序數(shù)越小,對(duì)粒度越敏感;同一元素粒度越小,
臺(tái)式X熒光光譜儀的組件主要包括光源、激發(fā)單色器、樣品池、熒光單色器及探測(cè)器等主要部件。探測(cè)器是其中很重要的一個(gè)組成部分,它承擔(dān)著接受和分辨信號(hào)的重要作用,由于探測(cè)器性能的不同,在選用探測(cè)器時(shí),就需要綜合考慮多種因素。那么怎么來選擇探測(cè)器呢?創(chuàng)想小編就來給大家介紹下吧?好的探測(cè)器不僅需要具有高分辨率和高計(jì)數(shù)率,還需要有較寬的元素分析范圍和有效活性區(qū)。其應(yīng)用領(lǐng)域和使用環(huán)境等也是需要關(guān)注之一。就目前X熒
公司名: 無錫創(chuàng)想分析儀器有限公司杭州分公司
聯(lián)系人: 馬建洲
電 話: 0510-83205379
手 機(jī): 18262253279
微 信: 18262253279
地 址: 江蘇無錫濱湖區(qū)富潤(rùn)路8號(hào)
郵 編: 214161
網(wǎng) 址: glmy6688.b2b168.com
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