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??快速溫變試驗可廣泛應用于航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品以及高低溫快速變化環(huán)境下的各種電子元器件,能夠滿足長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)要求。快速溫變試驗對產(chǎn)品的影響有哪些?快速溫變試驗對產(chǎn)品有什么影響呢?本文中檢測與您一起探討! 一、溫度的變化對產(chǎn)品的影響主要包括:1、對于由不同材料制成的產(chǎn)品,當溫度變化時,產(chǎn)品受熱不均勻,導致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品破裂、玻
光電子元器件物理特性測試項目: 1、內(nèi)部水汽:確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。 2、密封性:確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。 3、ESD闊值:確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。 4、可燃性:確定光電子器件所使用材料的可燃性。 5、剪切力:確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。 6、可焊性:確定需要焊接的光
從硬件角度出發(fā),可靠性測試分為兩類: 一是,以行業(yè)標準或者國家標準為基礎的可靠性測試。比如電磁兼容試驗、氣候類環(huán)境試驗、機械類環(huán)境試驗和安規(guī)試驗等。 二是,企業(yè)自身根據(jù)其產(chǎn)品特點和對質(zhì)量的認識所開發(fā)的測試項目。比如一些故障模擬測試、電壓拉偏測試、快速上下電測試等。 下面分別介紹這兩類可靠性測試。 基于行業(yè)標準、國家標準的可靠性測試方法 產(chǎn)品在生命周期內(nèi)必然承受很多外界應力,常見的應力有業(yè)務負荷、溫
??HAST試驗是高加速溫濕度應力測試,也稱高壓蒸煮試驗是一種以溫濕度為環(huán)境參數(shù)的高加速電子元器件性測試方法。其目的是通過將測試室中的水蒸氣壓力增加到測試樣品內(nèi)部水蒸氣分壓的高水平來評估測試樣品的耐濕性。????????HAST測試標準與高溫/高濕測試(85°C/85% RH)相比,HAST 由于濕
公司名: 武漢市鑫宇環(huán)檢測技術有限公司
聯(lián)系人: 邱經(jīng)理13266883556
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地 址: 湖北武漢江夏區(qū)武漢市東湖新技術開發(fā)區(qū)佛祖嶺街竹林小路9號武漢金能風電產(chǎn)業(yè)園3號廠房棟1-2層102室
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網(wǎng) 址: whzhiyitest.b2b168.com
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