Specim推出全新線陣掃描高光譜相機GX17，工業**

時間：2023-08-23

作者：深圳維爾克斯光電有限公司

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LASEROPTIK鍍膜原理的簡單介紹, ALD/EBE/IAD/IP/MS/IBS
LASEROPTIK能夠使用許多不同的涂層技術來滿足各種需求，其中有標準鍍膜和特殊鍍膜。但本次介紹的是涂層鍍膜技術的原理和方法，這幾種鍍膜的方法各有各的好處和缺陷，各自的涂層設計相輔相成的，原理上也大同小異，為了方便理解，LASEROPTIK還制作了原理圖和鍍膜機圖。這六種涂層鍍膜技術的方法分別是：- 原子層沉積(Atomic Layer Deposition, ALD)- 電子束蒸發(Elect
xenics長波紅外相機應用于熱工藝監控
熱工藝在許多行業中用于材料工程，例如熔化、成型或干燥。由于加工溫度可能很高，因此在加熱過程之后監控冷卻非常重要，而且存在一定的火災風險，工作過程需要安全控制，這樣可以安全地進行流程或暫停等待下一步。實際上，過高的溫度可能會給后續程序步驟帶來麻煩。此外，儲存也是一個問題，因為它可能會引起火災，導致生產停止，損壞產品，甚至損壞工廠。長波紅外相機(LWIR)，為監測溫度的適宜波長范圍長波紅外LWIR相機
優勢：Xenics短波紅外相機在自適應光學系統的應用
這篇文章中，我們將介紹自適應光學以及重點介紹在波前傳感中使用（短波）紅外相機的優勢。還重點介紹了在天文學、激光通信、生物成像顯微鏡和視網膜成像以及光學相干斷層成像方面的一些關鍵應用。最后，總結了用于自適應光學應用的SWIR相機的關鍵性能參數自適應光學介紹1953年，H·W·巴布科克在《太平洋天文學會出版物》中寫下了《補償天文觀測的可能性》[pha]，[str]。他討論了地球大氣湍流對天文觀測造成的
光纖光譜儀應用在檢測薄膜厚度
首先介紹一下光的干涉。由于光的波動特性，若干列光波在空間相遇時，互相疊加或互相抵消，引起光強的重新分布，在某些區域始終加強，在某些區域始終減弱，從而出現了明暗相間的條紋，這種現象稱為光的干涉。使用光纖光譜儀測薄膜厚度上圖為使用海洋光學光纖光譜儀，利用干涉效應來測量薄膜厚度的原理圖。當一束光以θ1從薄膜表面入射，其中一部分光直接反射，另一部分光則以θ2進入薄膜發生折射，折射光經膜層下表面反射后，再經