詞條
詞條說明
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術的光譜分析儀器,主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成,其特點是具有高的分辨率和信噪比,形狀小巧,可快速檢測分析出產品屬性,以數字或者趨勢圖展示,是很方便的一種儀器儀表工具。手持式光譜儀的應用領域主要有:電力、石化、考古、金屬加工、壓力容器、廢舊物資回收、航空航天、地質勘探、礦山測繪、開采、礦石分選、礦
X熒光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。近年來,X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展,已成為一種
手持式光譜分析儀原理手持式光譜分析儀為各行各業的工作人員提供了很大的方便,操作者可以從心所欲地進行現場分析和原位分析等測試。它也是目前在國內比較廣泛生產和運用的儀器。手持式分析儀運用X射線熒光光譜的工作原理,通過一系列X光管**出X射線,并且激發出被分析的合金,從而使合金內部原子產生能量,并且達到一定程度產生二次釋放X射線。我們通過探測機器捕獲到二次射線,于是與能量光譜圖開始進行成分分析和測試,并
● 1.熒光X射線微小面積鍍層厚度測量儀的特征*可測量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。*可通過CCD攝像機來觀察及選擇任意的微小面積以進行微小面積鍍層厚度的測量,避免直接接觸或破壞被測物。*薄膜FP法軟件是標準配置,可同時對多層鍍層及全金鍍層厚度和成分進行測量。此外,適用于無鉛焊錫的應用。*備有250種以上的鍍層厚度測量和成分分析時所需的標準樣品。(SII**)● 2.測量原理如圖1所示,
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
電 話:
手 機: 18550531168
微 信: 18550531168
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com
公司名: 昆山市周市牧亞凱機電設備商行
聯系人: 李經理
手 機: 18550531168
電 話:
地 址: 江蘇蘇州昆山市周市鎮青陽北路860號
郵 編:
網 址: skyray1.b2b168.com