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詞條說明
芯片高低溫測試設備性能指標保護措施: 1、可靠的接地保護裝置 2、電源欠壓,缺相保護 3、獨立工作室**溫保護 4、保護制冷機**壓、過載、油壓欠壓; 5、加熱器短路,過載保護 6、漏電保護,報警聲訊提及 芯片高低溫測試設備規格型號及技術參數:1.?溫度范圍:-20~+150℃/-40~+150℃/-50~+150℃/-60~+150℃/-85~+150℃。 2.控制穩定性:±0.5℃ 3.
快速溫變試驗箱的制冷工作原理: 快速溫變試驗箱制冷循環均采用逆卡若循環,該循環由兩個等溫過程和兩個絕熱過程組成。其過程如下:制冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力,消耗了功使排氣溫度升高,之后制冷劑經冷凝器等溫地和四周介質進行熱交換,將熱量傳給四周介質。后制冷劑經閥絕熱膨脹做功,這時制冷劑溫度降低。最后制冷劑通過蒸發器等溫地從溫度較高的物體吸熱,使被冷卻物體溫度降低。此循環周而復始從而達到降溫之目的。
一臺自然環境實驗設備,包含恒溫恒濕試驗箱所出示的自然環境標準,務必是可觀察的和可操縱的,這不但是為了較好地使空氣質量參數限定,在一定的容時容差范疇以內,確保實驗標準的重現性和可重復性的規定,并且從商品實驗的安全性考慮也是務必的,便于避免自然環境標準無法控制造成被試商品的毀壞,產生多余的損害?,F階段各種各樣試驗箱實驗標準中,大致規定主要參數檢測的精密度不可小于實驗標準容許的,誤差的三分之一。溫度均勻
冷熱沖擊試驗箱的結構簡介 冷熱沖擊試驗箱主要是針對于電工、電子產品,以及其原器件,及其它材料在溫度急劇變化的環境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗。主要用于對產品按照國家*標準要求或用戶自定要求,在高溫與低溫瞬間變化條件下,對產品的物理以及其他相關特性進行環境模擬測試,測試后,通過檢測,來判斷產品的性能,是否仍然能夠符合預定要求,以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。 冷熱沖擊試驗箱的結構:
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